3-5074-01 에너지 분산 형광 X선 분석 장치 EDX-LE
기능
- Features required for RoHS/ELV screening analysis are included as standard.
- The device automatically determines everything from the principal component determination to the selection of conditions.
- You can easily set the analysis position while checking the camera image with the sample observation function.
- Equipped with an automatic X-ray tube ball aging function, equipment maintenance can be minimized.
- It has a detector that does not require cooling by liquid nitrogen, thus reducing running costs.
- By adding optional options, you can perform halogen and antimony screening analysis, qualitative and quantitative analysis, matching (Steel type discrimination, variety discrimination), and thin film analysis.
사양
- 모델 번호: EDX-LE
- 크기(mm): 520 x 650 x 420
- 무게(kg): 약 60
- 콘텐츠 설정: 본체, 제어용 PC, 프린터
- 측정 원리: 형광 X선 분석 방법
- 측정 방법: 에너지 분산형
- 측정 대상: 고체, 액체, 분말
- 최대 식별 검색 범위: 13AL - 92U
- 샘플 챔버 크기: 최대 370 x 320 x 155mm
- 냉각 방법: 공기 냉각(팬 포함)
- 조사 영역: 위3·5·10mm
- 기본 필터: 5가지 유형 + 열기
- 유형: Si-PIN 반도체 검출기
- 계산 유형: 디지털 필터 계수 처리
- 측정 대기: 대기 중
- 샘플 관찰: 반도체 카메라
- 지원되는 OS: Windows(R)7
- 전원 공급 장치: 단상 AC100V 50/60Hz
- 전원 코드 길이: 250만
- 측정 원리: 형광 X선 분석 방법
- 측정 방법: 에너지 분산형
- 측정 대상: 고체, 액체, 분말
- 최대 식별 검색 범위: 13AL - 92U
- 샘플 챔버 크기: 최대 370 x 320 x 155mm
- 냉각 방법: 공기 냉각(팬 포함)
- 조사 영역: 위3·5·10mm
- 기본 필터: 5가지 유형 + 열기
- 유형: Si-PIN 반도체 검출기
- 계산 유형: 디지털 필터 계수 처리
- 측정 대기: 대기 중
- 샘플 관찰: 반도체 카메라
- 지원되는 OS: Windows(R)7
- 전원 공급 장치: 단상 AC100V 50/60Hz
- 전원 코드 길이: 250만
| 주문 번호 | 3-5074-01 | |
|---|---|---|
| 모델 번호 | EDX-LE | |
| 표준 가격 |
JPY: 5,450,000
USD: 34,162.85
Excange rate 1USD= 159.53JPY
Valid price in Japan |
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| 수량 | 1piece | |
| 일본의 주식 |
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| 공급자 재고 |
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제품 카탈로그
| 카탈로그 이름 | 페이지 |
|---|---|
| SANIFOODS Catalog 2016 [Inspection and Sanitation] | 237 |